本イベントは本学ナノ科学技術学際研究センターと東海大学の技術共同管理室の共同開催で、両校の学生・教職員ならびに周辺の教育機関と企業を対象とした分析機器についての講習会です。ＳＥＭ（走査電子顕微鏡）は材料表面の微細形状を観察するだけでなく、観察時に生じるＸ線のエネルギーを分光することにより元素分析も可能な装置であり、生物から材料まで広い分野で広く用いられている。今回の講師には鶴見大学の三島弘幸氏を迎え、基礎から研究に基づいた観察事例を紹介いたします。